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Soporte en línea y servicios
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Sensor láser de desplazamiento de CCD de alta velocidad y alta precisión: (Serie LK-G) Especificaciones de Cabezales de Sensor |
El de mejor desempeño en su clase con las especificaciones que lo respaldan |
| Para mayor información, descargue el CATÁLOGO DE PRODUCTOS utilizando el ícono de CATÁLOGO en la sección de Soporte y Servicios en Línea en la parte superior |
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| Variaciones de Cabezal de Sensor Serie LK-G |
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| Serie LK-G Sensor láser de desplazamiento: Especificaciones de Cabezal |
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1. El rango se obtiene midiendo el objeto estándar de KEYENCE (cerámica).
LK-G10/G15: Cuando la frecuencia de muestreo es de 20 μs, el rango es de +0.01"(+0.37) (lado FAR) a -0.04"(-1 mm) (lado NEAR).
LK-G32/G37: Cuando la frecuencia de muestreo es de 20 μs, el rango es de +0.07"(+1.8) (lado FAR) a -0.20"(-5 mm) (lado NEAR) para la reflexión difusa, y de +0.06"(+1.6) (lado FAR) a -0.18"(-4.5 mm) (lado NEAR) para la reflexión especular.
LK-G82/G87: Cuando la frecuencia de muestreo es de 20 μs, el rango es de -0.35"(-9) (lado NEAR) a -0.59"(-15 mm) (lado NEAR) para la reflexión difusa, y de 0.34"(-8.7) (lado NEAR) a 0.55"(-14 mm) (lado NEAR) para la reflexión especular.
LK-G152/G157: Cuando la frecuencia de muestreo es de 20 μs, el rango es de -0.87"(-22) (lado NEAR) a -1.57"(-40 mm) (lado NEAR) para la reflexión difusa, y de -0.87"(-22) (lado NEAR) a -1.54"(-39 mm) (lado NEAR) para la reflexión especular.
2. El rango se obtiene midiendo el objeto estándar de KEYENCE (cerámica) con el modo estándar.
3. El valor se obtiene midiendo el estándar de KEYENCE (SUS) con 4096 veces de promedio a la distancia de referencia. El rango entre paréntesis es la linealidad típica obtenida midiendo el objeto con 16384. |
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| Aplicaciones de los Cabezales de Sensor LK-G400/G500 |
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1. El rango se obtiene midiendo el objeto estándar de KEYENCE (cerámica).
(LK-G407/LK-G402)
Cuando la frecuencia de muestreo es de 20 μs, el rango es de -2.76" (-70) (lado NEAR) a -3.94" (-100 mm) (lado NEAR) para la reflexión difusa.
Cuando la frecuencia de muestreo es de 20 μs, el rango es de -2.76" (-70) (lado NEAR) a -3,90" (-99 mm) (lado NEAR) para la reflexión especular.
(LK-G507/LK-G502)
Cuando la frecuencia de muestreo es de 20 μs, el rango es de -9.06" (-230) (lado NEAR) a -9.84" (-250 mm) (lado NEAR) para la reflexión difusa.
Cuando la frecuencia de muestreo es de 20 μs, el rango es de -9.06" (-230) (lado NEAR) a -9.80" (-249 mm) (lado NEAR) para la reflexión especular.
Cuando la frecuencia de muestreo es de 50 μs, el rango es de -4.92" (-125) (lado NEAR) a -9.84" (-250 mm) (lado NEAR) para la reflexión difusa.
Cuando la frecuencia de muestreo es de 50 μs, el rango es de -4.92" (-125) (lado NEAR) a -9.80" (-249 mm) (lado NEAR) para la reflexión especular.
2. El rango se obtiene midiendo el objeto estándar de KEYENCE (cerámica) con el modo estándar.
3. El valor se obtiene midiendo el estándar de KEYENCE (SUS) con 4096 veces de promedio a la distancia de referencia.
4. Todos se calculan a escala total = ±9.84" (±250 mm).
5. “Rango de alta exactitud” y “rango alto” hacen referencia a la linealidad cuando se utilizan esos rangos. |
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| Advertencia |
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Soporte en línea y servicios
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