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Soporte en línea y servicios
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| Características |
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Micrómetro Óptico LED/CCD de Alta Velocidad |
Cabezales de Medición para Mayor Precisión y Velocidad de Muestreo |
| Para mayor información, descargue el CATÁLOGO DE PRODUCTOS utilizando el ícono de CATÁLOGO en la sección de Soporte y Servicios en Línea en la parte superior |
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El nuevo sistema de medición logra 2400 muestras/segundo con alta precisión y confiabilidad. |
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| La serie LS-7000 ha mejorado la precisión y velocidad de muestreo |
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Muestreo de alta velocidad de 2400 muestras/segundo, 2 veces más rápido que los micrómetros convencionales |
| El procesador D.E. recientemente desarrollado, garantiza un procesamiento instantáneo de los datos de medición enviados desde el HL-CCD, posibilitando así un mejoramiento significativo en la velocidad de muestreo. |
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Excelente repetibilidad de ±0.06 µm, 4 veces mejor que los sistemas convencionales |
| Mediante el uso de tecnologías de LED y CCD, la repetibilidad es 4 veces mejor que con los micrómetros de barrido láser convencionales, y la velocidad de la medición es dos veces más rápida. |
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Nuevo sistema óptico y procesamiento digital |
| La luz uniforme y estable, emitida por un LED GaN, pasa a través de un sistema óptico telecéntrico, y es recibida por un HL-CCD. La señal es procesada entonces digitalmente para su exposición, dando como resultado mediciones de alta velocidad y gran precisión. |
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LS-7070 (M) – Amplio rango de medición, manteniendo gran precisión |
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| Tipo de diámetro grande |
Rango de medición: 0.5 a 65 mm
Objeto mínimo detectable: 0.5 mm
Precisión de medición: ±3 µm
Repetibilidad: ±0.2 µm |
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LS-7030 (M) – Tipo de Rango de Medición Ancho |
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| Garantiza Gran Precisión y Amplio Rango de Medición. |
Rango de medición: 0.3 a 30mm
Objeto mínimo detectable: 0.3mm
Precisión de medición: ±2µm
Repetibilidad: ±0.15µm |
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LS-7010 (M) – Tipo de Medición Súper Fina |
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| Medición de Objetos Diminutos con Gran Precisión. |
Rango de medición: 0.04 a 6 mm
Objeto mínimo detectable: 0.04 mm
Precisión de medición: ±0.5 µm
Repetibilidad: ±0.0 6µm |
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Unidad de purga de aire (opcional) y Clasificación IP64 [ para ambientes adversos ] |
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| Unidad de purga de aire (opcional) |
| Al sujetar la unidad de purga de aire delante del cabezal de medición, proveyendo circulación de aire, se evitará que el polvo o suciedad se acumulen en la superficie del cabezal. |
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Construcción Duradera con Cabezal IP64 Compatible con Controlador |
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| Creado para Ambientes Hostiles |
| El cabezal memoriza los datos de compensación para asegurar la compatibilidad con el controlador. Esto mejora enormemente la precisión de la medición y la facilidad de mantenimiento del cabezal. Además el cabezal de medición cumple con la calificación IP64. Es resistente a salpicaduras y apropiado para ambientes hostiles. |
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Soporte en línea y servicios
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| Micrómetro Láser CCD Multipropósito |
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