Puntos importantes a tener en cuenta al seleccionar un escáner láser 2D/3D para la línea

Capacidad de generación de imágenes del elemento receptor de luz

La razón principal para conocer la capacidad de generación de imágenes del elemento receptor de luz, es que no existe ninguna especificación que defina dicha capacidad.
Esta sección presenta factores importantes, más allá de las especificaciones, que deben considerarse al seleccionar un escáner láser 2D/3D para la línea.

Objetos de medición con varios colores

Para los escáneres láser 2D/3D, el elemento óptimo de recepción de luz debe tener un amplio rango dinámico, y ser capaz de detectar con precisión tanto la luz débil como la fuerte (sin saturación).

[Optimizado para objetos oscuros]La potencia del láser es fuerte, o el tiempo de exposición es largo / [Color oscuro]Cantidad óptima de luz reflejada, [Color brillante]La luz reflejada es demasiado fuerte y está sobresaturada

[Optimizado para objetos brillantes]La potencia del láser es débil o el tiempo de exposición es corto / [Color oscuro]La luz reflejada es demasiado débil para la detección, [Color brillante]Cantidad óptima de luz reflejada

※Atención:Si la luz recibida está saturada, el perfil resultante puede parecer correcto cuando se hace un alejamiento. Sin embargo, al hacer un acercamiento, el perfil no es ideal.

Ejemplo de comparaciónInspección de soldadura de componentes electrónicos

Medición con un rango dinámico estrecho

La reflexión de la soldadura no se ha detectado correctamente.

Medición con un amplio rango dinámico

Somos capaces de detectar las soldaduras correctamente.

Ejemplo de comparaciónInspección de altura y volumen de sellador

Medición con un rango dinámico estrecho

La reflexión desde la superficie curva causa una detección inconsistente.

Medición con un amplio rango dinámico

La pendiente también se puede detectar de forma estable.

Captura de objetos con formas detalladas

Si las capacidades de captura de imágenes del CMOS son las mismas, usar un intervalo de datos más corto permitirá capturar el objeto con mayor detalle.

Con intervalos de datos cortos

Con intervalos de datos largos

Sin embargo, si la capacidad de generación de imágenes del CMOS es baja —por ejemplo, si la detección es difícil en áreas con poca cantidad de luz reflejada—, entonces el uso de un intervalo de datos más corto dará lugar a situaciones como las siguientes.

  • Punto de
    selección     Un CMOS con capacidades de generación de imágenes avanzadas es esencial para capturar con precisión la apariencia detallada de formas finas.
  • Punto de
    selección     Se recomienda el uso de intervalos de datos más cortos, en situaciones con capacidades de generación de imágenes del CMOS similares.

Rango de medición real

La velocidad de muestreo inicial en los productos de la Serie LJ-V7000 es 1KHz.
El uso de una velocidad de muestreo de 8 kHz o más requiere un rango de medición reducido, para una reducción del procesamiento de datos.
Alternativamente, para un uso a una velocidad de muestreo de 8 kHz sin reducir el rango de medición, se requeriría un adelgazamiento de los datos, para una cantidad menor de procesamiento de datos.

Fallas comunes Se seleccionó un instrumento de medición con un intervalo de datos de 10 μm para capturar formas detalladas con mayor precisión, pero el uso a 8 kHz requería un adelgazamiento de los datos, lo que ha hecho que el intervalo de datos sea de 20 μm.
Aunque la intención era utilizar el instrumento a 8 kHz, el rango de medición se hizo más estrecho, lo que provocó la necesidad de usar el instrumento a 4 kHz.

Con la Serie LJ-V7000

Sin adelgazamiento de datos.
Rango de medición completo.

～4kHz

Sin adelgazamiento de datos.
Rango de medición: Reducido a la mitad verticalmente.

～8kHz

Adelgazamiento de datos.
Rango de medición completo.

～16kHz

Adelgazamiento de datos.
Rango de medición: Reducido a la mitad vertical y horizontalmente.

～64kHz

Velocidad

Para aplicaciones en la línea, los siguientes tres aspectos son factores importantes para la velocidad de muestreo del escáner láser 2D/3D.

  • Rango de medición
  • Capacidad de generación
    de imágenes del CMOS
    / Medición de perfil detallada
  • Estabilidad de datos

Rango de medición

Como se describe en “2. Rango de medición real”, aumentar la velocidad puede resultar en un rango de medición menor o en un adelgazamiento de los datos.
Se requiere de antemano verificar si las condiciones requeridas se podrán cumplir a la velocidad de muestreo deseada.

Capacidad de generación de imágenes del CMOS
/ Medición de perfil detallada

A medida que aumenta la velocidad de muestreo, el tiempo de exposición por muestra se acorta.
Se debe tener cuidado al medir objetos con baja reflectancia, objetos oscuros o con superficies inclinadas.

Muestreo a baja velocidad A 1 kHz

Muestreo de alta velocidad A 8 kHz

Al igual que con la medición de formas detalladas, el uso de un muestreo de alta velocidad conlleva el riesgo de que la detección se vuelva imposible en algunos puntos.

Muestreo a baja velocidad

Muestreo de alta velocidad

Estabilidad de datos

Usar filtros de procesamiento con un número de datos grande proporcionará una estabilidad de datos aún mayor, por lo que se podría decir que las velocidades de muestreo más altas proporcionan una mayor estabilidad.

¡Valores de medición estabilizados!

  • RESULTADO DE PROMEDIAR 3 PERFILES Con los modelos convencionales, la estabilidad de la medición era limitada a causa de velocidades de muestreo insuficientes, que eran necesarias para alcanzar los tiempos de ciclo requeridos.
  • Modelo convencional
  • RESULTADO DE PROMEDIAR 720 PERFILES La Serie LJ-V proporciona una estabilidad de perfil significativamente mayor, al utilizar un muestreo de ultra alta velocidad, hasta 240 veces más rápido que los modelos convencionales. Esto permite promediar el perfil, así como eliminar valores anormales, utilizando filtros de mediana.
  • LJ-V