
Las posiciones de la superficie de un objeto se miden utilizando instrumentos de medición reflectiva.
Independientemente del material o color, los objetos se pueden medir a través de un muestreo de ultra alta velocidad, incluso cuando los objetos están vibrando o se menean ligeramente.
Punto de selección
- Selección del objeto no determinada por la transparencia/opacidad o color
- Medición sin contacto posible
- Punto de haz pequeño y alta velocidad