Sistemas de medición 3D
Sistemas de medición 3D fuera de línea para diversas industrias y aplicaciones.
Línea
Los instrumentos de medición de la Serie WM-6000 de CMM de área amplia pueden medir fácilmente las dimensiones y las formas de los productos. Las dimensiones se pueden medir con la sonda de contacto y las formas con la sonda de escaneo láser. Las sondas inalámbricas eliminan las limitaciones de recorrido, lo que permite una medición fácil en un amplio rango. Sin necesidad de preprocesamientos como rociar spray, el escaneado puede realizarse rápidamente y con gran precisión.
El Escáner CMM 3D Serie VL-800 es el primero en su línea de modelos en incorporar 3D con IA, haciendo que la adquisición y análisis de datos 3D de alta calidad resulten sencillos para cualquier usuario. El sistema recomienda de forma inteligente los métodos óptimos de escaneo, ensamble y medición en función de la forma de la pieza que se está analizando. Además, las piezas escaneadas pueden compararse directamente con sus modelos CAD para una rápida visualización de diferencias, o el escaneo 3D puede utilizarse para agilizar los procesos de ingeniería inversa. Desde el escaneado hasta la salida del archivo STEP, el VL-800 lo gestiona todo automáticamente y proporciona datos precisos en un formato accesible por cualquier software CAD.
El Sistema de Medición 3D de la Serie VR-6000, permite el análisis sin contacto y reemplaza los medidores de rugosidad y perfiladores de contacto. Este sistema captura la superficie completa de la pieza con una resolución de 0.1 µm, lo que permite una medición de objetos que no es posible con los instrumentos de tipo sonda. La unidad rotatoria automatizada recientemente incorporada facilita la medición y permite obtener formas de sección transversal fieles a la realidad y sin puntos ciegos, de este modo, es posible medir el grosor y la profundidad de las paredes incluso en zonas en las que, de otra manera, sería necesario cortar. Adicionalmente, el algoritmo de escaneo HDR proporciona capacidades de escaneo mejoradas para determinar las condiciones ópticas de medición, incluso con objetos brillantes o de baja reflectancia.
