Cabezales de Medición para Mayor Precisión y Velocidad de Muestreo
La serie LS-7000 ha mejorado la precisión y velocidad de muestreo
El procesador D.E. recientemente desarrollado, garantiza un procesamiento instantáneo de los datos de medición enviados desde el HL-CCD, posibilitando así un mejoramiento significativo en la velocidad de muestreo.
Mediante el uso de tecnologías de LED y CCD, la repetibilidad es 4 veces mejor que con los micrómetros de barrido láser convencionales, y la velocidad de la medición es dos veces más rápida.
La luz uniforme y estable, emitida por un LED GaN, pasa a través de un sistema óptico telecéntrico, y es recibida por un HL-CCD. La señal es procesada entonces digitalmente para su exposición, dando como resultado mediciones de alta velocidad y gran precisión.
Rango de medición: 0.5 a 65 mm
Objeto mínimo detectable: 0.5 mm
Precisión de medición: ±3 µm
Repetibilidad: ±0.2 µm
Rango de medición: 0.3 a 30mm
Objeto mínimo detectable: 0.3mm
Precisión de medición: ±2µm
Repetibilidad: ±0.15µm
Rango de medición: 0.04 a 6 mm
Objeto mínimo detectable: 0.04 mm
Precisión de medición: ±0.5 µm
Repetibilidad: ±0.0 6µm
Al sujetar la unidad de purga de aire delante del cabezal de medición, proveyendo circulación de aire, se evitará que el polvo o suciedad se acumulen en la superficie del cabezal.
El cabezal memoriza los datos de compensación para asegurar la compatibilidad con el controlador. Esto mejora enormemente la precisión de la medición y la facilidad de mantenimiento del cabezal. Además el cabezal de medición cumple con la calificación IP64. Es resistente a salpicaduras y apropiado para ambientes hostiles.