Se utiliza exposición de alta velocidad para poder realizar una inspección precisa de los objetos, incluso cuando éstos vibran, haciendo posible una medición exacta.
Al integrar los circuitos periféricos de la medición CMOS en un solo chip, se ha mejorado la relación señal/ruido dramáticamente, alcanzando un muestreo de alta velocidad. Por ejemplo, se pueden medir objetos de 1 mm 0.04" aunque se muevan a 1000 m/min. Incluso piezas que vibran a altas velocidades se pueden medir de forma estable.