Inspección de asentamiento, orientación y OCR de chips IC

Utilizando óptica de sección de luz con un escáner automático basado en tecnología patentada, la Serie LJ-S8000 puede adquirir simultáneamente información de altura y de escala de grises. La inspección de altura también se puede realizar sin afectar la inspección convencional en escala de grises, lo que ayuda a mejorar la estabilidad y permite su uso en una gama más amplia de aplicaciones. La lectura de OCR y códigos también es posible junto con verificaciones y mediciones de presencia/ausencia, lo que lo convierte en un dispositivo de inspección integral.