Mediciones estables de alta velocidad de defectos de borde en un substrato de cristal líquido son posibles
Incluso objetos altamente transparentes pueden ser rastreados gracias al LED verde y al umbral ajustable
Un nuevo sistema micrométrico de alta precisión que corrige automáticamente la desalineación y vibración del objeto.
Micrómetro óptico con tecnología inteligente de punta, con gran resolución de 0.01 micrones, y alta velocidad de 2400 muestras/segundo.
Micrómetro de barrido láser de alta velocidad, que opera con hasta 4 cabezales conectados a un solo controlador. Proporciona mediciones a escala submicrométrica y a velocidades de producción en línea.
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Dispositivo de medición de diámetro externo de barrido láser que puede medir grandes diámetros
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