Posicionamiento de sustratos de LCDs

Positioning of LCD glass

Fabricación de vidrio

Mediciones estables de alta velocidad de defectos de borde en un substrato de cristal líquido son posibles

Beneficio

Incluso objetos altamente transparentes pueden ser rastreados gracias al LED verde y al umbral ajustable

CONOZCA LOS DETALLES DEL PRODUCTO

  • Un nuevo sistema micrométrico de alta precisión que corrige automáticamente la desalineación y vibración del objeto.

  • Micrómetro óptico con tecnología inteligente de punta, con gran resolución de 0.01 micrones, y alta velocidad de 2400 muestras/segundo.

  • Micrómetro de barrido láser de alta velocidad, que opera con hasta 4 cabezales conectados a un solo controlador. Proporciona mediciones a escala submicrométrica y a velocidades de producción en línea.

  • Dispositivo de medición de diámetro externo de barrido láser que puede medir grandes diámetros

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