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Medición de altura de uniones de alambres
Fabricación de semiconductores
Los defectos en las uniones de cables pueden causar que las tarjetas de circuito fallen.
- Beneficio
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El punto de haz de 2 μm y el método de doble barrido aseguran mediciones estables.
CONOZCA LOS DETALLES DEL PRODUCTO
- Serie LT-9000
Medidor de desplazamiento confocal de barrido láser de superficie -
El método de barrido de superficie permite medir todo tipo de objetos
- Serie LT-9000
- Serie LT-8100/8000Descontinuado
Medidor de desplazamiento láser confocal -
El revolucionario nuevo medidor de desplazamiento con una precisión de 0.1 μm
Catálogos
Guías técnicas
- Serie LT-8100/8000Descontinuado
