Sistemas de Medición de Perfiles
Visión General
Los sistemas de medición de perfiles miden y registran el perfil de un objeto, al trazar la superficie del objeto con una aguja. Algunos instrumentos pueden incluso ser utilizados como medidores de rugosidad superficial. Los modelos con control numérico por computadora (CNC) son capaces de medir ángulos, radios de arcos, diferencias de altura y pasos de rosca de tornillos. Estos instrumentos son ideales para medir formas diminutas, como roscas de tornillo y películas delgadas, en el orden de micras.
En los últimos años, se han desarrollado modelos de perfilómetros que utilizan un láser en lugar de una aguja para medir formas complejas, al rastrear el perfil sin contacto. Algunos modelos incluso pueden realizar mediciones tanto de la superficie superior como la inferior.
Estos instrumentos se utilizan principalmente en la creación de prototipos, para verificar si las especificaciones coinciden con los dibujos de diseño. También se aplican en ingeniería inversa.
Construcción y Aplicaciones
- A
- Unidad motriz
- B
- Aguja
- C
- Detector
- D
- Mesa de medición
Cómo utilizar un Sistema de Medición de Perfiles
- Coloque la aguja en la unidad principal
- Realice las mediciones de acuerdo con el procedimiento de manejo (tal como el posicionamiento y el ajuste del origen).
- Utilice una plantilla como p.ej. una tabla de eje Y o una tabla giratoria, para automatizar la medición.
- Los datos medidos se pueden convertir y utilizar como varios tipos de datos CAD.
Precauciones de Manipulación
- Seleccione una aguja adecuada para la forma del objeto y el propósito de la medición.
- Especialmente para modelos que utilizan láser, las mediciones deben realizarse en un entorno libre de polvo.
- Para realizar mediciones correctas con alta precisión, use una plantilla u otra herramienta para colocar correctamente el objeto en el instrumento de medición.
- Se requiere una calibración antes de usar el instrumento. Utilice un kit dedicado para realizar la calibración.
Lo último en Sistemas de Medición de Perfiles
Los modelos recientes de sistemas de medición de perfiles pueden medir perfiles instantáneamente, sin ningún movimiento o enfoque de la plataforma XY, lo que permite la medición de muchos objetos en un corto período de tiempo.
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